LED标准

现在，随着半导体照明产业的快速发展，国际间LED测试基准的制定相当重视。美国国家标准检测研究所像（NIST）那样进行LED试验方法的研究，做好了确立一系列LED测试方法和基准的准备。日本也设立了“白光LED考试研究委员会”，专门研究照明用白光LED的考试方法和技术基准。

世界发达国家为了夺取LED的先机，在LED标准和测试方面投入了大量人力物力，在标准方面重视LED特性参数的选择和测试方法的研究。同时，许多国外大企业的研发人员积极参加国家和国际专业化组织，制定半导体照明测试标准。例如，过去美国Lumileds和日本Nichia分别发表LED技术交叉许可证，共同制定电力型LED基准，准备推进市场应用。

照明LED标准以及检测技术的现状国际照明委员会CIE以及国际电工委员会IEC没有与LED照明相关的标准。严格如上所述，在海外现在没有命名为半导体照明的规格，只有通常LED的测试规格和与通常的光源相关的照明相关的规格。一般LED的考试基准是1。IEC60747）-5Semiconductordevices Discrete devices和integrated circuits（1992）IEC60747-5半导体分立器件以及积体电路2。IEC60747）-5-2 DiscreteSemiconductordevices and integrated circuits-part5-2:Optiolectronic devices-Essential ratings和characteristics（1997-09）-5-2分立半导体器件及积体电路组件5-2：光电子器件分类特徵及要素（1997-09）3。IEC60747）-5-3 DiscreteSemiconductordevices and integrated circuits-part5-3:Optioelectronic devices-Measuring methods（1997-08）IEC60747-5-3分立半导体器件及积体电路组件5-3：光电子器件试验方法（1997-08）4。IEC60747-12-3 Semiconductor devices－part12-3: optoelectronic devices ndash;Blank detail specification for light-emitting diodes ndash;Display应用程序（1998-02）IEC60747-12-3半导体分立器件12-3：光电子设备显示用发光二极体空白详细基准（1998-02）5。CIE）127-1997 Measurement ofLEDs（1997）CIE127-1997LED试验方法（1997）6。CIE/ISOstandards onLEDintensity measurementsCIE/ISOLED强度测试标准

国际照明委员会CIE1997年发表的CIE127-1997LED试验方法将LED强度测试决定为平均强度的概念，规定了统一的测试结构和检测器的大小，LED建立了正确的试验比的基础。CIE127-1997的考试方法虽然不是国际标准，但是容易实施正确的考试比例对，现在世界主要企业正在采用。但是，随着技术的快速发展，许多新的LED技术特性CIE127？1997LED试验方法不相关。

现在，市场有了新的发展，日本正在努力建立完整的LED标准，随着相关标准越来越明确，LED产业的发展会更加稳定。